半导体制冷式中空玻璃露点仪生产

　　整体说明：

　　ZDK-III中空玻璃露点仪适用标准GB/T11944－2012《中空玻璃》关于露点测定部分，用于检测中空玻璃试样内表面在标准规定条件和方法情况下是否结露，同时也是对中空玻璃的气密性参数的验证。适用于大专院校、科研单位、中空玻璃生产企业以及相关第三方检测单位。

　　一、产品描述

　　ZDK-III中空玻璃露点仪是根据标准GB/T11944－2012《中空玻璃》关于露点测定部分规定的技术条件制造的一种仪器。用于检测中空玻璃试样内表面在标准规定条件和方法情况下是否结露的一款自动型检测设备，同时还可以检测中空玻璃的气密性的优劣，在*理想的密闭情况下，中空玻璃不应该产生结露。ZDK-III露点仪采用半导体三级制冷，低温可以达到-70℃，操作简单，只需要220V电源，不需要其他辅助设备，降温速度快冷量大，同时配有计时功能，可以自动提示，使试验更加方便简单。
 

　　二、符合标准

　　GB/50411-2019《建筑节能工程施工质量验收标准》

　　GB/T11944－2012《中空玻璃》

　　三、中空玻璃露点仪技术参数

　　1、温度显示PID高精度数显表

　　2、温度范围-70℃-室温任意设定控温精度：±0.1℃

　　3、示值误差±0.2℃

　　4、分辨率±0.1℃

　　5、制冷方式三级制冷测量头直径：50mm；

　　6、制冷介质502制冷剂

　　7、试件尺寸510mm×360mm

　　8、试验环境湿度30%~75%RH

　　9、试验环境温度23℃±2℃

　　10、电压220V重量20KG外形尺寸（mm）：430×360×650

　　四、产品特点

　　1、采用半导体三级制冷的技术，制冷温度可以设定和控制。制冷速度快、操作十分方便。不仅可以在实验室内使用而且可以在现场检测，不需要使用容易挥发的干冰，使用方便且使用成本低廉。

　　2、集成了半导体致冷和机械制冷混合控制系统，实现全过程自动控制。

　　3、采用Pt1000温度传感器，PID自动调节技术，所以测量精度高，测量稳定性高

　　4、侧头采用纯铜材质，内置三级半导体制冷片，外设双重保温材料，硅胶隔离确保真空气密。
 

五、质量服务承诺：

　　1、质保期一年，终生免费维护。

　　2、在质保期内，除人为因素外，任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、故障我们免费修理或更换。

　　3、接到用户通知所提供的仪器出现故障后，十分钟内回应.

　　4、保证及时向用户以优惠的价格提供所需的备品备件和易耗品。